Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods
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标准范围（官方英文摘要）
IEC 62878-1-1:2015 specifies the test methods of passive and active device embedded substrates. The basic test methods of printed wiring substrate materials and substrates themselves are specified in IEC 61189-3. This part of IEC 62878 is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.
标准信息
- 标准号
- IEC 62878-1-1:2015
- 英文标题
- Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods
- 发布单位
- —
- 技术委员会
- TC 91
- 版本 / 版次
- 1.0
- 状态
- 现行
- 发布日期
- 2015
- ICS 分类
- 31.190 电子元器件组件
- 页数
- 109 页
- 官方定价
- CHF 300
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