Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
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标准范围（官方英文摘要）
IEC 63364-1:2022 specifies terms, the test method, and the report of sound variation detection system based on IoT. It provides the evaluation method for each part of the sound variation detection system based on IoT in the block diagram, the characterization parameters, symbols, test setups and the conditions. In addition, this document defines the configuration items and criteria of standard space and firing situation for the quality evaluation measurement of sound field variation detection system with IoT.
标准信息
- 标准号
- IEC 63364-1:2022
- 英文标题
- Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
- 发布单位
- —
- 技术委员会
- TC 47
- 版本 / 版次
- 1.0
- 状态
- 现行
- 发布日期
- 2022
- ICS 分类
- 31.080.99 其他半导体分立器件
- 页数
- 24 页
- 官方定价
- CHF 80
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