Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
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标准范围（官方英文摘要）
ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.
ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.
标准信息
- 标准号
- ISO 22493:2014
- 英文标题
- Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
- 发布单位
- —
- 技术委员会
- ISO/TC 202/SC 1
- 版本 / 版次
- 2
- 状态
- 现行
- 发布日期
- 2014
- ICS 分类
- 37.020 光学设备
- 页数
- 20 页
- 官方定价
- CHF 129
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