ICS 31
电子学
共 1,114 项 ISO/IEC 标准 · 合计 18.6 GB · 分 56 页展示
二级分类
IEC 62977-3-9:2023
Electronic displays - Part 3-9: Evaluation of optical performance - Display sparkle contrast
现行
31.260 光电子学、激光设备
2023
32 页
¥2
IEC 63000:2016/AMD1:2022
Amendment 1 - Technical documentation for the assessment of electrical and electronic products with respect to the restriction of hazardous…
现行
31.020 电子元器件综合
2016
5 页
¥1
IEC 63011-1:2018
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 1: Terminology
现行
31.200 集成电路、微电子学
2018
24 页
¥2
IEC 63011-2:2018
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 2: Alignment of stacked dies having fine pitch interconnect
现行
31.200 集成电路、微电子学
2018
28 页
¥2
IEC 63011-3:2018
Integrated circuits - Three dimensional integrated circuits - Part 3: Model and measurement conditions of through-silicon via
现行
31.200 集成电路、微电子学
2018
28 页
¥2
IEC 63041-1:2021 RLV
Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
现行
31.140 频率控制和选择用压电器件与介…
2021
90 页
¥5
IEC 63041-2:2017
Piezoelectric sensors - Part 2: Chemical and biochemical sensors
现行
31.140 频率控制和选择用压电器件与介…
2017
16 页
¥1
IEC 63041-3:2020
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors
现行
31.140 频率控制和选择用压电器件与介…
2020
25 页
¥2
IEC 63041-3:2026
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors
现行
31.140 频率控制和选择用压电器件与介…
2026
24 页
¥2
IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1:…
现行
31.080 半导体分立器件
2019
23 页
¥2
IEC 63068-2:2019
Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2:…
现行
31.080 半导体分立器件
2019
25 页
¥2
IEC 63068-3:2020
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3:…
现行
31.080 半导体分立器件
2020
51 页
¥3
IEC 63068-4:2022
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4:…
现行
31.080 半导体分立器件
2022
25 页
¥2
IEC 63098-4:2023
Transmitting and receiving equipment for radiocommunication - Radio-over-fibre technologies and their performance standard - Part 4:…
现行
31.240 电子设备用机械构件
2023
17 页
¥1
IEC 63145-1-2:2022
Eyewear display - Part 1-2: Generic - Terminology
现行
31.120 电子显示器件
2022
20 页
¥1
IEC 63145-10:2023
Eyewear display - Part 10: Specifications
现行
31.120 电子显示器件
2023
26 页
¥2
IEC 63145-20-10:2019
Eyewear display - Part 20-10: Fundamental measurement methods - Optical properties
现行
31.120 电子显示器件
2019
31 页
¥2
IEC 63145-20-20:2019
Eyewear display - Part 20-20: Fundamental measurement methods - Image quality
现行
31.120 电子显示器件
2019
26 页
¥2
IEC 63145-21-20:2022
Eyewear display - Part 21-20: Specific measurement methods for VR image quality - Screen door effect
现行
31.120 电子显示器件
2022
20 页
¥1
IEC 63145-22-10:2020
Eyewear display - Part 22-10: Specific measurement methods for AR type - Optical properties
现行
31.120 电子显示器件
2020
26 页
¥2
关于 ICS 31 电子学
ICS 31 是 ICS 分类法中的一级大类，中文名称"电子学"，本站收录该分类下的 ISO 与 IEC 国际标准共 1,114 项，覆盖 14 个二级类目。
这一分类下的标准以电子元器件综合、电阻器、电容器等方向为主。如果只需要其中一两份，可以进入详情页按页数单份购买；如果需要成批使用，整包获取更省事——¥199 可获得该分类全部标准的云盘分享，在云盘页面一键打包下载。
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